- 判別端子的晶體管測試儀
- 電路使用兩只CD4022或CD4017計(jì)數(shù)器IC1和IC2
- 測試時(shí)采用的是CD4520計(jì)數(shù)器與CD4028解碼器
圖1中的簡單晶體管測試儀可以判斷出晶體管的類型,并且能幫助檢測出晶體管的發(fā)射極、集電極和基極。其方法是檢查被測晶體管三個(gè)端子T1、T2和T3之間流過的各種可能電流方向的組合。
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圖2是一個(gè)簡單示意圖,有助于理解測試的過程。每個(gè)端子都有一對(duì)NPN晶體管Q1與Q3和PNP晶體管Q4與Q6,連接到-V或+V上,它們?cè)诙俗又g建立了所需電勢差。電路生成端子之間所有可能或需要的+V與-V組合,以建立起結(jié)的關(guān)系。Q7和Q8作為電壓轉(zhuǎn)換器,而G1至G3是抑制器,防止T1至T3出現(xiàn)同時(shí)為+V和-V的沖突情況。
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了解這點(diǎn)以后,就能輕松地選擇出晶體管的基極。至于集電極與射極的區(qū)別,必須了解其特性,即在反偏時(shí),基-射結(jié)的擊穿要比基-集電極結(jié)更容易,后者在正常工作情況下是反偏的。
由于晶體管的基-集電極反偏擊穿電壓各不相同,因此電路提供了一種改變電源電壓的簡單方式(圖3)。隨著電壓的升高,與發(fā)射極連接的兩只LED都發(fā)光,而集電極只有一個(gè)LED發(fā)光(圖2中b和d)。±4V的基本電壓足夠用于檢測晶體管的基極或類型。如將電源電壓從±4V增至±15V,就可以測試很多種晶體管的發(fā)射極。考慮到串聯(lián)LED的壓降,這個(gè)范圍可為基射結(jié)提供最高26V以上的反向擊穿電壓。
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