【導讀】在要求低漏電流的應用中，請務必選擇低輸入偏置電流(IB)的運算放大器。應用筆記 AN-1373 介紹如何使用 ADA4530-1 評估板測量超低偏置電流。然而，由于飛安(fA)級電流的實際處理性質，測量環(huán)境（夾具、屏蔽、電纜、連接器等設備）也會影響測量結果。
問題:
有沒有一種簡單的辦法來測量飛安級別的超低偏置電流？
答案:
有——只需要仔細設置。
簡介
在要求低漏電流的應用中，請務必選擇低輸入偏置電流(IB)的運算放大器。應用筆記 AN-1373 介紹如何使用 ADA4530-1 評估板測量超低偏置電流。然而，由于飛安(fA)級電流的實際處理性質，測量環(huán)境（夾具、屏蔽、電纜、連接器等設備）也會影響測量結果。
本文將介紹如何嘗試使用常見的商業(yè)級實驗室設備、夾具和材料重現(xiàn)AN-1373中的測量過程，并提供一些替代方案來改進測量，最終測試的偏置電流將達到50 fA。首先，我們測量用于測量偏置電流的輸入電容（運放內(nèi)部的等效共模輸入電容），以及125°C條件下給輸入電容充電時輸出電壓的變化。我們還嘗試根據(jù)測得的輸出電壓推導偏置電流值。最后，我們將嘗試根據(jù)測量結果來改進測量環(huán)境。
容性集成測量
根據(jù)AN-1373，為了使用容性集成測量方法，必須先測量ADA4530-1的輸入電容(Cp)。我們將使用 ADA4530-1R-EBZ-BUF 執(zhí)行本次實驗，ADA4530-1配置為單位增益的緩沖器模式。
接著，我們計算輸入電流(IB+)。具體來說，使用圖1所示的電路配置，當測試盒中的SW從ON（接地至GND）轉到OFF（開路）時，IB+流入Cp。當IB+給Cp充電時，輸出電壓升高，因此通過監(jiān)控IB+并將其代入等式1，可以計算其值。
圖1.容性集成測量方法示意圖。
通過輸入串聯(lián)電阻測量總輸入電容
為計算Cp，本實驗使用串聯(lián)電阻法。圖2顯示了一個簡單的電路示意圖。串聯(lián)電阻的值基于AN-1373第6頁的測量指南，實際值是Rs = 8.68 MΩ。此外，在測試盒中安裝了SW，以供稍后的實驗使用（此時，SW開路）。
可以測量函數(shù)發(fā)生器的波形衰減到–3 dB時的頻率，并且可以使用等式2計算輸入電容。
圖2.使用輸入串聯(lián)電阻計算Cp。
圖3顯示這一設置。在“通過已知輸入電容測量IB+”部分（AN-1373的第6頁）描述的實驗中，由于溫控室中的溫度提高至125°C，因此我們使用能夠承受該溫度的材料。RG-316U用作同軸電纜的材料。此外，評估板上ADA4530-1的同相輸入是三軸連接器。為此，使用三軸-同軸轉換連接器（Axis公司的BJ-TXP-
圖3.Cp測量設置：(a)溫控室內(nèi)部——所示為ADA4530-1的評估板，和(b)測試盒側的設置。
獲得的測量結果是Cp = 73.6 pF，這是一個相對較大的值，因為根據(jù)AN-1373，實際測量值約為2 pF。其原因與測試盒（更像是測試板）到同相輸入的電纜長度有關。
通過已知輸入電容測量IB+
最后，我們開始測量偏置電流。電路配置如圖1所示，安裝的測試盒如圖4所示。注意，移除了“通過輸入串聯(lián)電阻測量總輸入電容”部分使用的輸入電阻。如AN-1373（容性集成測量方法，第7頁）中所述，將SW短接至GND，然后將其置于開路，并使用數(shù)字萬用表(DMM)監(jiān)控輸出電壓波動持續(xù)數(shù)分鐘（我們使用的是Keysight Technologies的34401A DMM）。最后，通過將VOUT代入等式1，計算IB+。
圖4.容性集成測量的設置。
相同條件下的三次測量結果如圖5所示。圖中下半部分顯示了通過DMM測量的ADA4530-1的輸出電壓波動，上半部分顯示了使用等式1計算的電流值。該圖顯示，對于所有三個實例，測得的電壓值都沒有可重復性。因此，計算得到的電流值的波形也與AN-1373中描述的結果不同（參見AN-1373圖13和14）。
圖5.測量結果。下半部分顯示了通過DMM測量的ADA4530-1的輸出電壓，上半部分顯示了使用等式1計算的電流值。藍線是第一次測量，綠線是第二次測量，紅線是第三次測量。
如何改進測量環(huán)境
在“容性集成測量”部分，我們根據(jù)AN-1373測量了IB+，但結果有所不同。在這一部分，我們分享如何改進測量環(huán)境，從而提高測量精度。
安裝屏蔽盒并縮短輸入電纜
首先，我們實施了以下兩項改進：
● 在恒溫室內(nèi)的評估板上安裝了屏蔽盒（參見圖6）。
● 縮短了連接到同相輸入端子的同軸電纜，以減小Cp（參見圖7）。
圖6.安裝屏蔽盒。
圖7.縮短同軸電纜。
第一項改進旨在減少外部噪聲的影響，第二項改進是降低電纜中的小漏電流（重新計算的Cp是35.2 pF）。然而，雖然采取了這些措施并重新進行了測量，但與“容性集成測量”中獲得的結果類似，沒有觀察到可重復性。波形與預期波形顯著不同。
移除測試盒
移除所用的測試盒，然后將SW改為直接短接至地和開路（參見圖8）。也就是說，移除稱為測試盒的電導組件，然后執(zhí)行測量。因此，我們能夠獲得如圖9所示的波形。
圖8.移除測試盒后進行測量。在SW內(nèi)部手動執(zhí)行短路和開路操作。
圖9.移除測試盒后的測量結果。藍線、橙線和綠線是Cp = 35.2 pF時的測量結果。紅線是Cp = 26.5 pF時的測量結果。
在所有測量中，由DMM測量的輸出電壓以恒定斜率升高，并達到約4.16 V。對應的電流值約為50 fA。
此外，圖9中的紅線顯示使用更短的同軸電纜連接到同相輸入端子時，重新測量的波形(Cp = 26.5 pF)。電壓升高的斜率與理論計算值一樣大。從這些測量結果可以看出，輸入側的電導組件會對測量精度產(chǎn)生顯著的不利影響。
結論
雖然fA級測量可在一般實驗室環(huán)境中執(zhí)行，但需要仔細考慮運算放大器輸入側的漏電流路徑。
為了提高測量精度，建議在輸入側使用特氟龍端子模塊或評估板配合使用三軸電纜。
致謝
作者在此衷心感謝Scott Hunt、Iku Nagai和Jun Kakinuma提供的技術建議。
參考資料
Wong, Vicky。 “應用筆記AN-1373：ADA4530-1毫微微安級輸入偏置電流測量” ADI公司，2015年10月。
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