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如何正確設(shè)計高性能轉(zhuǎn)換器?你想知道的方法要點都在這?

發(fā)布時間:2019-05-23 責(zé)任編輯:lina

【導(dǎo)讀】現(xiàn)代 SA R和 ∑-Δ 型模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC) 的主要優(yōu)勢之一是在設(shè)計中考慮了易用性,不僅簡化了系統(tǒng)設(shè)計人員的工作,而且允許對多代各種應(yīng)用重復(fù)使用單個參考設(shè)計。在很多情況下,您可以構(gòu)建一個參考設(shè)計長時間用于不同的應(yīng)用。精密測量系統(tǒng)的硬件保持不變,而軟件實現(xiàn)可適應(yīng)不同系統(tǒng)的需要。
 
現(xiàn)代 SA R和 ∑-Δ 型模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC) 的主要優(yōu)勢之一是在設(shè)計中考慮了易用性,不僅簡化了系統(tǒng)設(shè)計人員的工作,而且允許對多代各種應(yīng)用重復(fù)使用單個參考設(shè)計。在很多情況下,您可以構(gòu)建一個參考設(shè)計長時間用于不同的應(yīng)用。精密測量系統(tǒng)的硬件保持不變,而軟件實現(xiàn)可適應(yīng)不同系統(tǒng)的需要。
 
這就是可重用的美妙之處,但實際生活中沒有萬事如意。多個應(yīng)用采用單一設(shè)的主要缺點是,您放棄了實現(xiàn)dc、地震、音頻和更高帶寬應(yīng)用的絕對最高可能性能所需的自定義和優(yōu)化。在急于重用和完成設(shè)計的過程中,往往會犧牲精確性能。其容易忽略和忽視的一個主要方面是時鐘。在本文中,我們將討論時鐘的重要性,并為正確設(shè)計高性能轉(zhuǎn)換器提供指導(dǎo)。
 
ADC基礎(chǔ)知識
 
抖動和信噪比之間的關(guān)系
在查閱現(xiàn)有文獻(xiàn)時,我們看到了有關(guān)ADC性能依賴于抖動參數(shù)的大量描述,并且通常此類標(biāo)題會包含“高速”一詞,這不無道理。為了考察抖動和信噪比(SNR)之間的關(guān)系,首先來看SNR數(shù)值和rms抖動之間的關(guān)系。
 
如果抖動是系統(tǒng)中的主要噪聲源,則此關(guān)系簡化為:
 
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如果有不同的噪聲源,則需要使用等式2來計算組合SNR:
 
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其中:
 
ev 是簡化的電壓噪聲rms
 
δtRMS 是以各種來源的rms總和估算的總rms抖動:
 
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求和對不相關(guān)噪聲源有效。利用等式2,可得到基于熱噪聲(e2v)和抖動噪聲的SNR。抖動對SNR的影響取決于輸入頻(fIN)。這表示在較高的頻率下,SNR主要由抖動定義。圖1所示是根據(jù)等式1和等式2得到的受抖動影響的理想和實際ADC的曲線。圖1中的曲線在高速ADC數(shù)據(jù)手冊中很常見,但通常在MHz范圍開始。對于精密ADC,我們將進(jìn)一步在kHz范圍內(nèi)展示相同的依賴關(guān)系。我們使SNR超過108dB(參見圖1),精密ADC現(xiàn)在能夠做到這一點。這正是AD7768-1的用武之地。
 
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圖1. 不同抖動水平下 SNR 和 fIN的關(guān)系。
 
查看圖1中的曲線,可以看到僅當(dāng)σtRMS超過300ps時,AD7768-1轉(zhuǎn)換1kHz信號(灰色線)才會受到時鐘抖動的影響。我們可以調(diào)整變量并顯示特定ENOB和fIN的抖動要求:
 
 
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圖2. 在轉(zhuǎn)換器不同ENOB下最大允許抖動和fIN的關(guān)系。
 
目前高精度轉(zhuǎn)換器的目標(biāo)抖動使得設(shè)計人員不能選擇使用通用振蕩器(如555定時器振蕩器)或許多微控制器或基于FPGA的時鐘發(fā)生器。我們只能選擇晶體(XTAL)和鎖相環(huán)(PLL)振蕩器。新型MEMS振蕩器技術(shù)也會適用。
 
過采樣技術(shù)在這里有用嗎?
在等式1和等式2中可以觀察到重要的一點,抖動對采樣頻率沒有明顯的依賴關(guān)系。這意味著,很難通過過采樣技術(shù)(平面或噪聲整形)來減少抖動的影響。過采樣在高精度系統(tǒng)中很常見,但在對抗抖動噪聲方面幾乎沒有什么作用。與采樣頻率的關(guān)系見等式4
 
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其中:
 
L(f)是相位噪聲頻譜單邊帶(SSB)密度函數(shù)
 
fmin和fmax是與特定測量相關(guān)的頻率范圍。
 
一般來說,增加fS對改善抖動影響用處不大。理論上講,ADC的過采樣率會減少一些寬帶抖動影響。3在量化噪聲和熱噪聲方面,噪聲整形是抑制目標(biāo)頻段噪聲的一種非常有效的方法。如等式7所示,與噪聲抖動抑制相比,增加過采樣率能夠更快地抵制量化噪聲(等式5)。這使得抖動在利用噪聲整形的過采樣結(jié)構(gòu)中更加突出。在奈奎斯特轉(zhuǎn)換器中,這可能沒有那么嚴(yán)重。圖3以二階∑-ΔADC和新四階∑-ΔADC為例說明了這一現(xiàn)象。
 
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圖3.過采樣將量化噪聲降至低于抖動導(dǎo)致的噪聲限值。
 
A 點顯示四階∑-Δ ADC 要求時鐘抖動低于 30 ps。
 
B點說明采用較早技術(shù)的二階整形器進(jìn)行200 kHz轉(zhuǎn)換時不受高達(dá) 200 ps 抖動水平影響。
 
使用基本誤差為Δ的N階整形器在過采樣率M下整形的量化噪聲之間的關(guān)系:
 
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過采樣率M和抖動量之間的關(guān)系:
 
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等式7顯示二階噪聲整形(N = 2)。應(yīng)將注意力放M上,M現(xiàn)在以5次方變化。
 
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不同代的轉(zhuǎn)換器會看到一些共同的關(guān)系特性。一階噪聲整形器隱藏抖動的時間最長,從而將三次關(guān)系推進(jìn)到~1/M3,而四階∑-Δ將獲得~1/M9的關(guān)系。抖動最多會降低1/M,,而這通常假定存在較強的寬帶頻率分量,而非關(guān)系1/(fN)。
 
信號振幅會改變現(xiàn)狀嗎?
等式2顯示分子和分母中均有振幅,使振幅和SNR值之間無法實現(xiàn)良好的平衡。在衰減信號中,除了抖動外,熱噪聲開始限制動態(tài)范圍,從而使SNR變差。因此,我們可以看到,如果通過新的精密ADC來實現(xiàn)足夠低的噪聲,精密ADC將在幾乎所有應(yīng)用(dc/地震應(yīng)用除外)中受到抖動限制。
 
時鐘抖動也會有頻譜
在前面的介紹中,我們確立了信號、總電壓噪聲和時鐘抖動rms之間關(guān)系。SNR通過非常簡單的等式2將這三者聯(lián)系在一起。SNR是用于比較電路設(shè)計的一個很好的基準(zhǔn),但在實際應(yīng)用中未必可行。在很多應(yīng)用中,專門針對SNR的設(shè)計不夠理想。因此,無雜散動態(tài)范圍(SFDR)成為設(shè)計目標(biāo)。在新的高精度系統(tǒng)中,可實現(xiàn)140dB甚至150dB的SFDR。
 
由時鐘源導(dǎo)致信號失真的過程可以通過混合二者來檢查??刹捎肍M調(diào)制理論分析頻域。得到的快速傅立葉變換(FFT)頻譜是時鐘源頻譜與輸入信號頻譜混合的產(chǎn)物。為查看我們的ADC如何受此影響,我們引入了相位噪聲。抖動和相位噪聲均描述相同的現(xiàn)象,但將根據(jù)應(yīng)用首選一種。我們已經(jīng)展示了如何在等式3中將相位噪聲轉(zhuǎn)換成抖動。在積分過程中,頻譜的細(xì)微差別將丟失。
 
相位噪聲密度圖通常與時鐘源設(shè)備和PLL規(guī)范一起提供。對于較低頻率源,圖4所示的曲線變得更少見,這些頻率源用于當(dāng)前的過采樣轉(zhuǎn)換器,但報告總抖動值(rms或峰值)。
 
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圖4. 100 MHz/33.33MHz 時鐘發(fā)生器 AD9573的相位噪聲密度圖。
 
通過斬波方案,可以強制電阻和晶體管元件在直流附近表現(xiàn)出相當(dāng)平坦的噪聲特性。沒有等效的時鐘斬波電路可用。
 
在轉(zhuǎn)換高幅度AIN信號時,得到的FFT變?yōu)镕M調(diào)制頻譜,其中AIN充當(dāng)載波,時鐘邊帶與信號等效。請注意,相位噪聲在FFT中不會受到頻帶限制,噪聲在頻帶內(nèi)表現(xiàn)為多個鏡像混疊片段(參見圖5)。
 
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圖5.近載波相位噪聲確定主頻帶周圍的FFT頻帶的幅度。
 
在精密ADC中,通??梢砸蕾囅辔辉肼暤淖匀凰p特性而不提供任何時鐘抗混疊濾波器。通過向時鐘源添加濾波,可以減少一些抖動—例如,在時鐘路徑中使用調(diào)諧變壓器來表現(xiàn)出理想的頻率響應(yīng)。求積分頻率的積分上限(等式3)并不容易確定。精密ADC數(shù)據(jù)手冊未對此提供太多建議。在這些情況下,對時鐘CMOS輸入進(jìn)行了工程假設(shè)。
 
精密ADC中更常見的問題發(fā)生在fIN頻率附近,其中1/(fN)形狀的相位噪聲將使SFDR特性更差。大的AIN信號將充當(dāng)阻塞器,這是一個在無線電接收器中更常用的術(shù)語,這里也適用。
 
旨在記錄具有非常長捕獲時間的高精度頻譜時,由于時鐘相位噪聲頻譜密度的性質(zhì),時間將受到很大影響。SNR和FFT圖可通過縮短捕獲時間(更寬的頻率帶)來改進(jìn)。對于給定的FFT捕獲,rms抖動應(yīng)計為?頻帶的集成相位噪聲。查看圖5,可以很明顯地看到這一點。
 
雖然這一技巧可以明顯改善FFT和SNR曲線,但對觀察阻塞器附近的信號沒有任何幫助。FM調(diào)制等式的一個重要概括和簡化是邊緣高度與下面成正比:
 
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延長單次FFT的積分時間是一項挑戰(zhàn),需要進(jìn)一步捕獲更多和更突出的相位噪聲部分。我們需要考慮組合更長時間捕獲的替代方式來改進(jìn)這一點。
 
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圖6. 相位噪聲向下混疊到基帶。
 
出于實際考慮,應(yīng)在fBIN/2偏移頻率下在單個點比較SSB曲線,以選取更好的源,獲得干凈的近載波頻譜和SFDR。如果比較源以實現(xiàn)更好的SNR,則需要從fBIN/2到超過fS(抖動別名)的3倍執(zhí)行等式3中的積分。
 
∑-Δ型調(diào)制器對時鐘的敏感性
 
無論何種架構(gòu)和技術(shù),前面所述都適用于任何ADC。下面將討論特定技術(shù)帶來的挑戰(zhàn)。抖動依賴性最突出的示例之一是∑-Δ型ADC。離散時間和連續(xù)時間調(diào)制器之間的差別在抗抖動性方面有很大差別。
 
連續(xù)時間和離散時間∑-Δ型ADC不僅受到與采樣相關(guān)的抖動的影響,其反饋環(huán)路也可能受到抖動的嚴(yán)重干擾。離散時間和連續(xù)時間調(diào)制器中DAC元件的線性度是實現(xiàn)高性能的關(guān)鍵。通過與運算放大器(opamp)并聯(lián)可以直觀地了解DAC的重要性。如果設(shè)計一個增益等于2的電壓放大器,那么電路設(shè)計人員通常首先會考慮使用一個運算放大器和兩個電阻。如果不是極端外部環(huán)境,圖7a中所示的電路就符合要求。在大多數(shù)情況下,電路設(shè)計人員不需要了解運算放大器就能獲得很好的性能。設(shè)計人員必須選擇匹配良好且精度足以獲得正確增益的電阻。為了減少噪聲,電阻必須很小。在熱性能方面需要考慮熱系數(shù)匹配。
 
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圖 7. 運算放大器與 ∑-Δ 型 ADC比較。
 
請注意,這些依賴因素都不是由運算放大器決定的。對于這種電路操作,運算放大器不理想的影響并不重要。沒錯,輸入電流或容性負(fù)載可能影響大。需要檢查壓擺能力,因為如果帶寬不受限制,可能要考慮噪聲影響。但是只有在選擇正確電阻而未影響性能的情況下,才能解決這些問題。在∑-Δ型AC中,反饋比兩個電阻更復(fù)雜—在這些電路中,我們使用DAC代替電阻執(zhí)行相應(yīng)功能。當(dāng)電路的其余部分以類似于運算放大器電路的方式獲得環(huán)路增益,DAC做法中的缺陷就會很不利。
 
ADC采用元件混搭(shuffling)或校準(zhǔn),這提供了一種處理DAC元件不匹配的方法。這些混搭或校準(zhǔn)會將錯誤轉(zhuǎn)移到高頻率,但也會使用更多的定時事件,并可能增加與抖動相關(guān)的性能下降。最終造成噪底受到抖動影響污染的情況,從而降低噪聲整形的有效性。因為調(diào)制器可以采用不同的DAC方案以及它們的混合,例如歸零和半歸零。深入研究這些方案進(jìn)行分析和數(shù)值模擬超出了本文的范圍。
 
關(guān)于本文中的抖動,我們將通過圖示形式簡化。由于ADC環(huán)路內(nèi)存在抖動依賴性問題,一些新型設(shè)計將在芯片上提供具有適當(dāng)相位噪聲量的倍頻器。雖然這會省去系統(tǒng)設(shè)計人員的大部分工作,但請注意,倍頻器仍然依賴于良好的外部時鐘和低噪聲電源。在這些系統(tǒng)中,應(yīng)考慮查看PLL文獻(xiàn),了解對觀察到的相位噪聲的潛在威脅。圖8顯示不同DAC的抗抖動性能,顯示離散時間DAC運行時影響極小。
 
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圖8. 離散時間 DAC 在某種程度上抗抖動,而在連續(xù)時間DAC中,窄脈沖將對抖動性能具有顯著的影響
 
現(xiàn)代連續(xù)時間∑-Δ型設(shè)計包括板上PLL。由于在與無源元件一致的情況下仔細(xì)調(diào)整時序,因此它們不提供各種時鐘速度??刹捎媚撤N人工方式擴大ADC轉(zhuǎn)換率的選擇范圍,這種方法采用采樣率轉(zhuǎn)換的方式。采樣率轉(zhuǎn)換雖然具有數(shù)字電路的優(yōu)點,但會增加功耗,不過這些代價仍使它值得成為高度調(diào)諧的模擬電路的替代方案。ADI公司的許多ADC都提供采樣率轉(zhuǎn)換選項。
 
采用開關(guān)電容濾波器的架構(gòu)
 
精確定時可能影響性能的另一個特定領(lǐng)域是開關(guān)電容濾波。設(shè)計精密ADC時,需要確保將所有干擾信號排除或充分衰減。ADC可能要提供特定嵌入式模擬和數(shù)字濾波。ADC的數(shù)字濾波具有很強的抗抖動能力,而任何形式的時鐘模擬濾波都會受抖動影響。
 
當(dāng)精密轉(zhuǎn)換器采用更先進(jìn)的前端開關(guān)時,這一點尤為重要。雖然開關(guān)電容濾波器從理論上可能是有優(yōu)點,但我們只能參考摘要進(jìn)一步研究和分析。
 
轉(zhuǎn)換器中常見的方案之一是相關(guān)雙采樣(CDS)。參見圖9,了解CDS抑制質(zhì)量的性能如何隨時鐘以三種不同的質(zhì)量水平而變化。圖中顯示阻帶附近的信號。顯示了在x軸上以1為中心的開關(guān)電容濾波器。圖的中心未被數(shù)字濾波抑制,并且依賴于模擬開關(guān)電容濾波器。需要優(yōu)質(zhì)時鐘來保持良好的抑制水平。即使測量dc信號,抖動也會通過向下混疊干擾信號來影響噪聲性能,這些信號本應(yīng)由硅片上的開關(guān)電容濾波器濾除。數(shù)據(jù)手冊中可能沒有明確提到是否存在板載開關(guān)電容濾波器。
 
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圖 9. 開關(guān)電容濾波性能與時鐘質(zhì)量—傳號空號比。
 
實用指南、問題根源和常見猜測
 
至此,我們已經(jīng)展示了時鐘會給您帶來問題的幾種情況,現(xiàn)在來看看能夠幫助您實現(xiàn)最大限度減少抖動量系統(tǒng)的技術(shù)。
 
時鐘信號反射
 
高質(zhì)量時鐘源具有非??焖俚纳仙拖陆禃r間。其優(yōu)勢是在轉(zhuǎn)換時減少抖動噪聲。遺憾的是,由于陡峭邊沿的好處,對正確的路由和端接提出了相當(dāng)嚴(yán)格的要求。如果時鐘線未正確端接,該線路將受到添加到原始時鐘信號的反射波的影響。此過程非常具有破壞性,且相關(guān)的抖動水平可輕松占據(jù)數(shù)百皮秒。在極端情況下,時鐘接收器能夠看到可能導(dǎo)致鎖定電路的額外邊沿。
 
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圖10. 有關(guān)時鐘的不佳、較佳、最佳電路設(shè)計(按降序排列)。
 
其中一種可能不合理的方法是使用RC濾波器減慢邊沿,從而消除高頻成分。甚至可以使用正弦波作為時鐘源,同時等待具有50Ω走線和端接的新PCB。盡管轉(zhuǎn)換是相對漸進(jìn)的,并且占空比可能因數(shù)字輸入遲滯而偏斜,但這將減少抖動的反射分量。
 
電源噪聲
 
數(shù)字時鐘可以在將邊沿傳送到采樣開關(guān)之前,通過各種緩沖器和/或電平移位器在ADC內(nèi)部路由。如果ADC具有模擬電源引腳,采用的電平移位器將成為抖動源。通常,芯片的模擬端將具有高電壓器件,并具有更長的壓擺時間,因此抖動靈敏度會提高。一些設(shè)計精良的器件在板上分離更多的模擬電源給時鐘和線性電路。
 
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圖11. 采樣時間受到DVDD、AVDD 以及AGND 和 DGND之間不同電源域引入的噪聲干擾
 
解耦電容:找對產(chǎn)品
 
由電源噪聲引起的抖動將通過去耦電路減小或放大。一些∑-Δ調(diào)制器將在模擬和數(shù)字電路中進(jìn)行大量數(shù)字活動。這可能導(dǎo)致與信號和數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)之間干擾有關(guān)的非特征性雜散。高頻電荷傳輸應(yīng)限制在器件附近的短環(huán)路。為了適應(yīng)最短的接線,優(yōu)秀的設(shè)計沿著芯片的細(xì)長側(cè)使用中心引腳。這些限制不是放大器和低頻芯片的常見問題,它們可以在角上有VDD和VSS引腳,如圖12的左側(cè)所示。PCB設(shè)計應(yīng)充分利用這些功能,并在引腳附近設(shè)置優(yōu)質(zhì)電容。
 
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圖12. 線性電路(左)和時鐘電路(右)的供電方案。
 
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圖13.解耦電容降低抖動的錯誤(左)和正確(右)位置。
 
時間分配器和時鐘信號隔離器
 
更快的時鐘具有更少的抖動,因此如果功率限制允許,在外部或內(nèi)部使用分頻器來提供所需的采樣時鐘會有所改善。在設(shè)計具有隔離器的系統(tǒng)時,請檢查其脈沖寬度。如果占空比欠佳,則偏斜會干擾模擬性能,在極端情況下,可能會鎖定IC的數(shù)字端。在精密ADC中,可能不需要光纖時鐘,但使用更高的頻率可以提供最后一位性能。在圖14中,AD9573在內(nèi)部使用2.5GHz,出于相同的原因提供全部33MHz和100MHz。如果ADC之間不需要精確同步,則晶振電路可能具有極魯棒的單數(shù)字與抖動性能。對于精密ADC,晶體放大器在100 kHz輸入時轉(zhuǎn)換為優(yōu)于22位的性能。這種性能很難被超越,并解釋了為什么XTAL振蕩器在可預(yù)見的未來仍會使用。
 
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圖14.AD9573的詳細(xì)功能框圖。
 
來自其他信號源的串?dāng)_
 
另一個抖動源與源自外部線路的時鐘干擾有關(guān)。如果時鐘源在能夠耦合的信號附近錯誤地路由,則會對性能產(chǎn)生極大影響。如果干擾源與ADC操作無關(guān),并且是隨機的,將極大地增加您的抖動預(yù)算。如果時鐘受到與ADC相關(guān)的數(shù)字信號的污染,則會觀察到雜散現(xiàn)象。對于從ADC,CLK線路和SPI線路可以是獨立時鐘,但這可能會在等式9中定義的頻率下導(dǎo)致問題,并且會混疊回第一個奈奎斯特區(qū)。
 
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建議使用鎖頻SPI和MCLK源。即使采用了這種預(yù)防措施,SPI和MCLK也可能具有與給定時鐘的脈沖占空比相關(guān)的雜散。例如,如果ADC抽取128,并且SPI僅讀取24位,則會產(chǎn)生一些創(chuàng)建與特定1/(24t)和1/(104t)測量相關(guān)的拍頻的風(fēng)險。因此,應(yīng)使MCLK遠(yuǎn)離鎖定的SPI線路以及數(shù)據(jù)線路。
 
接口和其他時鐘
 
在圖15中,標(biāo)記了各種定時周期,這很容易干擾SFDR或?qū)е露秳?。如果SPI通信未頻鎖到MCLK,則可能發(fā)生雜散。掌握布局技術(shù)是您緩解此問題的最大保障。頻率表現(xiàn)為混疊下行干擾源,但也作為拍頻和交調(diào)產(chǎn)物。例如,如果SPI在16.01 MHz下運行,MCLK在16 MHz下運行,則應(yīng)在10 kHz下發(fā)生雜散。
 
如何正確設(shè)計高性能轉(zhuǎn)換器?你想知道的方法要點都在這?
圖15. 存在異步通信和時鐘要求進(jìn)行混合雜散的故障和調(diào)查工作。
 
除好的布局之外,另一種減少雜散的方式是將它們移到相關(guān)頻帶的外部。如果MCLK和SPI可以鎖頻,則可避免許多干擾。即便如此,SPI仍然存在空閑期的問題,導(dǎo)致接地繁忙,而這仍然可能造成干擾。您可以使用對您有利的接口功能。ADC中的接口功能可提供狀態(tài)字節(jié)或循環(huán)冗余校驗(CRC)。這可能提供一種很好的方法來抑制雜散,并具有這些功能的額外好處。空閑時鐘,甚至是未使用的CRC字節(jié),都有利于均衡地填充數(shù)據(jù)幀。您可能會選擇忽略CRC,而仍然可以通過使用CRC獲得好處。當(dāng)然,這也意味著數(shù)字線路上需要額外功率。
 
如何正確設(shè)計高性能轉(zhuǎn)換器?你想知道的方法要點都在這?
圖16. 太靠近開關(guān)模式PSU的MCLK路由。
 
如何正確設(shè)計高性能轉(zhuǎn)換器?你想知道的方法要點都在這?
圖17. 具有XTAL放大器和與SPI有關(guān)的雜散的本地源MCLK。
 
如何正確設(shè)計高性能轉(zhuǎn)換器?你想知道的方法要點都在這?
圖18. 可以使用虛擬CRC或狀態(tài)來改善幀以消除雜散。
 
結(jié) 論
 
2018年,ADI發(fā)布了AD7768-1,這是一款具有低于100μV的偏移和高達(dá)100 kHz的平坦頻率響應(yīng)的高精度ADC。該ADC已成功應(yīng)用于SFDR超過140 dB的系統(tǒng)設(shè)計中,事實證明,在具有滿量程輸入的音頻帶之外,抖動可忽略不計。它包含一個片上RC振蕩器,能夠提供參考點來調(diào)試受干擾的時鐘源。這種內(nèi)部RC雖然不能提供低抖動,但可以提供差分方法來發(fā)現(xiàn)雜散源。
 
如何正確設(shè)計高性能轉(zhuǎn)換器?你想知道的方法要點都在這?
圖19. 具有正確設(shè)計的PCB和時鐘電路的AD7768-1的頻譜。
 
ADC實施內(nèi)部開關(guān)電容濾波技術(shù),也使用時鐘分頻器來減輕抗混疊濾波器的壓力。內(nèi)部時鐘分頻器可確保穩(wěn)定的性能,能夠使用通常從隔離器獲取的偏移時鐘來進(jìn)行操作。電源位置非常適合通過內(nèi)部短接合限制外部ESR/ESL效應(yīng)。毛刺抑制在時鐘輸入焊盤中實現(xiàn)。應(yīng)用板性能掃描顯示30psrms的抖動,能夠滿足各種應(yīng)用需求。如果您需要測量140+dB的SFDR,AD7768-1能夠幫助您非常迅速地獲取測量值,其功耗遠(yuǎn)低于以前的傳統(tǒng)電源軌方式。
 
(來源:亞德諾半導(dǎo)體)
 
 
  
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