電路仿真（例如LTspice®）很有用，可以幫助優(yōu)化電路。但是，仿真并不能代替硬件測試。就此而言，寄生參數(shù)要么難以估計，要么難以仿真。因此，電源要在實驗室中進(jìn)行徹底測試。用于測試的可以是內(nèi)部開發(fā)的原型，大多數(shù)情況下則是使用相應(yīng)電源 IC 制造商的現(xiàn)有評估板。

 

圖1. 用于電源運(yùn)行的連接。

 

連接測試電路時，應(yīng)考慮若干事項。圖1所示為測試設(shè)置的原理圖。被測電路的輸入側(cè)必須連接到電源，輸出側(cè)連接到負(fù)載。這聽起來微不足道，但有一些重要細(xì)節(jié)必須注意。

 

盡可能減小線路電感

 

圖1是用于評估電源轉(zhuǎn)換器的設(shè)置原理圖。我們要測試的是電源電路的行為，而不是測試板與實驗室電源之間或與輸出端負(fù)載之間的連接線路的影響。為降低這些連接線路的影響，應(yīng)采取兩項重要措施。

 

1. 連接線路應(yīng)盡可能短，短線路的電感值比長線路低。

2. 盡量縮小電流路徑面積可進(jìn)一步降低寄生電感。

 

為實現(xiàn)目標(biāo)，一個顯而易見的辦法是使用絞合線。這使得電流路徑面積僅取決于線路長度和絞合線外皮的厚度。圖2顯示了測試電壓轉(zhuǎn)換器的連接，其使用絞合連接線來降低線路寄生電感。

 

圖2. 使用短絞合線的實用操作設(shè)置。

 

在基于開關(guān)穩(wěn)壓器的電源中，輸入側(cè)和輸出側(cè)均有交流電。根據(jù)電路拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)，輸入側(cè)可能出現(xiàn)脈沖電流，例如在降壓轉(zhuǎn)換器（降壓控制器）中就會如此。啟動行為以及負(fù)載跳變也需要測試。在這些工作條件下，測試設(shè)置中的連接線路也承載交流電。

 

輸入端增加本地儲能器件

 

如果要測試電源對負(fù)載瞬變的響應(yīng)速度有多快，則被測設(shè)計必須提供足夠多的能量。被測設(shè)計輸入側(cè)的能量來源不應(yīng)是限制因素。為確保不出現(xiàn)這種情況，建議在電源輸入端放置一個較大容值的電容，如圖1中的綠色部分所示。它確保負(fù)載瞬變測試可以正確執(zhí)行。

 

但是，必須確保電源的后續(xù)使用受到非常明確的條件限制。對輸入端儲能器件的影響必須有很好的了解，以便可以正確選定電源輸入電容的大小。

 

還必須考慮圖1中大電容的另一個方面。如果需要在電源輸入端施加電壓瞬變以測試相應(yīng)的行為，則此電容會大大減慢被測電路經(jīng)受的電壓瞬變。因此，對于這些測試，應(yīng)移除該電容。

 

總之，與電源設(shè)計相關(guān)的任務(wù)看似簡單，但有很多事情必須考慮，例如將電路連接到實驗室工作臺。被測電路的電源線以及遠(yuǎn)離被測電路的電源線需要作為交流電路處理，因此，這些電纜必須很短并絞合，以減小這些連接電纜的寄生電感。對電路設(shè)計人員而言，這并不是多余的工作，這樣做會使測試結(jié)果接近我們測試的初衷。如果測試設(shè)置的影響得以降低，其余結(jié)果將更有價值。隨著時間推移，經(jīng)驗豐富的電源工程師已開發(fā)出優(yōu)化電路評估的方法。如果遵循本文中的所有提示，就能順利地完成評估。

 

 

免責(zé)聲明：本文為轉(zhuǎn)載文章，轉(zhuǎn)載此文目的在于傳遞更多信息，版權(quán)歸原作者所有。本文所用視頻、圖片、文字如涉及作品版權(quán)問題，請聯(lián)系小編進(jìn)行處理。

 

推薦閱讀：