1、引言

 

隨著電子技術(shù)的發(fā)展，器件的噪聲系數(shù)越來越低，放大器的動(dòng)態(tài)范圍也越來越大，增益也大有提高，使得電路系統(tǒng)的靈敏度和選擇性以及線性度等主要技術(shù)指標(biāo)都得到較好的解決。同時(shí)，隨著技術(shù)的不斷提高，對(duì)電路系統(tǒng)又提出了更高的要求，這就要求電路系統(tǒng)必須具有較低的相位噪聲，在現(xiàn)代技術(shù)中，相位噪聲已成為限制電路系統(tǒng)的主要因素。低相位噪聲對(duì)于提高電路系統(tǒng)性能起到重要作用。

 

相位噪聲好壞對(duì)通訊系統(tǒng)有很大影響，尤其現(xiàn)代通訊系統(tǒng)中狀態(tài)很多，頻道又很密集，并且不斷的變換，所以對(duì)相位噪聲的要求也愈來愈高。如果本振信號(hào)的相位噪聲較差，會(huì)增加通信中的誤碼率，影響載頻跟蹤精度。相位噪聲不好，不僅增加誤碼率、影響載頻跟蹤精度，還影響通信接收機(jī)信道內(nèi)、外性能測(cè)量，相位噪聲對(duì)鄰近頻道選擇性有影響。如果要求接收機(jī)選擇性越高，則相位噪聲就必須更好，要求接收機(jī)靈敏度越高，相位噪聲也必須更好。

 

總之，對(duì)于現(xiàn)代通信的各種接收機(jī)，相位噪聲指標(biāo)尤為重要，對(duì)于該指標(biāo)的精準(zhǔn)測(cè)試要求也越來越高，相應(yīng)的技術(shù)手段要求也越來越高。

 

2、相位噪聲基礎(chǔ)

 

2.1、什么是相位噪聲

 

相位噪聲是振蕩器在短時(shí)間內(nèi)頻率穩(wěn)定度的度量參數(shù)。它來源于振蕩器輸出信號(hào)由噪聲引起的相位、頻率的變化。頻率穩(wěn)定度分為兩個(gè)方面：長期穩(wěn)定度和短期穩(wěn)定度，其中，短期穩(wěn)定度在時(shí)域內(nèi)用艾倫方差來表示，在頻域內(nèi)用相位噪聲來表示。

 

2.2、相位噪聲的定義

 

IEEE standard 1139-1988：以載波的幅度為參考，在偏移一定的頻率下的單邊帶相對(duì)噪聲功率。這個(gè)數(shù)值是指在1Hz的帶寬下的相對(duì)噪聲電平，其單位為dBc/Hz。該定義最早是基于頻譜儀法測(cè)試相位噪聲，不區(qū)分調(diào)幅噪聲和調(diào)相噪聲。

 

 

IEEE standard 1139-1999：單邊帶相位噪聲L(f)定義為隨機(jī)相位波動(dòng)單邊帶功率譜密度Sφ(f)的一半，其單位為dBc/Hz。其中Sφ(f)為隨機(jī)相位波動(dòng)φ(t)的單邊帶功率譜密度，其物理量綱是rad2/Hz。 該定義基于鑒相器法測(cè)量相位噪聲，使載波降頻變換為接近直流，高噪聲下，會(huì)引起L(f)和Sφ(f)之間顯著的差異。

 

 

3、CW信號(hào)相位噪聲的測(cè)試原理及方法

 

3.1、頻譜儀測(cè)試法

 

3.1.1、直接頻譜分析(Marker Function)

 

該方法按照相位噪聲的基本定義，首先測(cè)量中心載波的信號(hào)功率，然后測(cè)量某一頻偏處噪聲功率，最后做計(jì)算即可得到相位噪聲值。

 

 

3.1.2、頻譜儀自動(dòng)測(cè)試(Phase Noise)

 

該方法還是基于頻譜儀測(cè)試載波功率和噪聲功率，但是可以自動(dòng)進(jìn)行測(cè)試，并顯示出完整的測(cè)試曲線，頻偏范圍可以自由設(shè)定，操作簡便快捷，精準(zhǔn)度比頻譜儀直接測(cè)試法要高，測(cè)試速度要快。

 

 

總之，頻譜儀法測(cè)試相位噪聲均基于頻譜測(cè)試的結(jié)果進(jìn)行相位噪聲的計(jì)算，該測(cè)試法無法區(qū)分調(diào)幅噪聲和相位噪聲，靈敏度受儀器固有的相位噪聲限制，無載波抑制，測(cè)量范圍受分辨率濾波器形狀因子限制，動(dòng)態(tài)范圍有限等缺點(diǎn);但是，該方法測(cè)試設(shè)置簡單、快捷，頻率偏移范圍大，可測(cè)試很多信號(hào)源的特性，比如：雜散發(fā)射、鄰信道功率泄漏、高次諧波;并且可以直接顯示相位噪聲曲線(當(dāng)調(diào)幅噪聲忽略不計(jì)時(shí))。

 

3.2、鑒相器測(cè)試法

 

3.2.1、鑒相器測(cè)試原理

 

鑒相器法是采用被測(cè)信號(hào)源與一同頻參考信號(hào)源進(jìn)行鑒相，鑒相器輸出信號(hào)經(jīng)低通濾波器和低噪聲放大器后輸入到頻譜儀或接收機(jī)中。

 

 

鑒相器輸入信號(hào)兩路正交信號(hào)：

 

 

鑒相器的輸出信號(hào)UIF(t)：

 

 

經(jīng)低通濾波，并假定ƒL= ƒR ，得到：

 

 

對(duì)于小的相差， 簡化得到：

 

 

3.2.2、延遲線測(cè)試法

 

延遲線法是把被測(cè)信號(hào)分成兩路，一路信號(hào)經(jīng)過延遲線后與另一路經(jīng)過一個(gè)移相器移相后的信號(hào)進(jìn)行鑒相，然后再濾波放大分析。延遲線的作用是將頻率的變化轉(zhuǎn)化為相位的變化，當(dāng)頻率變化時(shí)，將在延遲線中引起相位正比例的變化。雙平衡混頻器將相位變化轉(zhuǎn)化為電壓變化。

 

 

該測(cè)試方法具有載波抑制、調(diào)幅噪聲測(cè)試功能，測(cè)試時(shí)不需要額外的參考源，不需要信號(hào)同步，頻率漂移不再是問題。但是該測(cè)試方法高頻時(shí)損耗較大，使得測(cè)試靈敏度較低，而且測(cè)試時(shí)需要校準(zhǔn)，操作較為復(fù)雜。

 

3.2.3、鎖相環(huán)測(cè)試法

 

由于振蕩器的相位跳動(dòng)，90度的相位偏移并不能時(shí)刻穩(wěn)定。因此需要引入鎖相環(huán)路對(duì)相位進(jìn)行鎖定，以保證兩路信號(hào)相位穩(wěn)定的相差90度。

 

 

由于鎖相環(huán)路的引入會(huì)對(duì)相位噪聲測(cè)量帶來影響，在環(huán)路帶寬內(nèi)，振蕩器的相位噪聲將會(huì)被改善，因此在測(cè)量過程中需要對(duì)環(huán)路帶寬內(nèi)的相位噪聲進(jìn)行修正。通過鎖相環(huán)的環(huán)路帶寬特性，可以計(jì)算出環(huán)路增益，從而可以對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行修正。

 

鑒相器法測(cè)試相位噪聲具有很多優(yōu)點(diǎn)。

 

其中一個(gè)重要優(yōu)點(diǎn)是鑒相后信號(hào)的載波被抑制，接收機(jī)的中頻增益與載波電平無關(guān)，因此可以大大提高相位噪聲的測(cè)試靈敏度。另外，可以采用低噪聲放大器對(duì)鑒相后的信號(hào)進(jìn)行放大，從而可以降低測(cè)量接收機(jī)的噪聲系數(shù)，從而進(jìn)一步提高其測(cè)試靈敏度。

 

同時(shí)，對(duì)于信號(hào)中同時(shí)存在的AM噪聲和相位噪聲。可以通過調(diào)整兩路信號(hào)的相位差，使鑒相器可以分辨AM噪聲和相位噪聲。如果兩路鑒相信號(hào)相位相差90°，則鑒相后輸出對(duì)AM噪聲的抑制可以高達(dá)40dB，當(dāng)兩路鑒相信號(hào)相位相差 0° 時(shí)，則輸出結(jié)果僅有AM噪聲。

 

該測(cè)試方法的另一優(yōu)點(diǎn)是，相位噪聲的測(cè)試不在受參考源的限制，因?yàn)榭梢赃x擇非常好的相位噪聲的源作為測(cè)量的參考。

 

該測(cè)試方法還可以采用雙DUT法進(jìn)行相位噪聲的測(cè)量，當(dāng)存在兩個(gè)相同的高性能被測(cè)信號(hào)源時(shí)可以采用該方法，測(cè)量結(jié)果需要做3dB的修正。

 

但是，對(duì)于該測(cè)試方法也有相應(yīng)的局限性，該方法設(shè)置相對(duì)復(fù)雜，測(cè)量前有時(shí)需要做測(cè)試校準(zhǔn)和PLL參數(shù)計(jì)算;相對(duì)頻譜儀方法來說，鑒相器法的測(cè)量頻偏范圍較窄。同時(shí)，由于信號(hào)源特性除了相位噪聲指標(biāo)外，還需要測(cè)量如諧波特性，雜散特性，鄰信道抑制比等指標(biāo)，而該方法則無法完成這些測(cè)量，還需要用頻譜儀功能來實(shí)現(xiàn)。

 

3.3、數(shù)字相位解調(diào)測(cè)試法

 

針對(duì)以上測(cè)試方法的不足，目前最新的相位噪聲測(cè)試的方法為數(shù)字相位解調(diào)法。該測(cè)試方法可以直接進(jìn)行I/Q解調(diào)測(cè)量, 轉(zhuǎn)換為Sf(f), 再計(jì)算L(f)。數(shù)字相位解調(diào)法無鑒相器和鎖相環(huán)，所以不需要進(jìn)行環(huán)路帶寬修正，可以簡化校準(zhǔn)過程。該測(cè)試方法可以測(cè)量CW相位噪聲，脈沖相位噪聲，附加相位噪聲，脈沖附加相位噪聲等多項(xiàng)指標(biāo)。同時(shí)該測(cè)試方法具有極低的參考源相位噪聲、高速互相關(guān)，可以明顯提高測(cè)試的靈敏度。并且可以在大信號(hào)存在時(shí)測(cè)量小電平信號(hào)的相位噪聲。

 

 

4、脈沖信號(hào)相位噪聲測(cè)試原理和方法

 

脈沖調(diào)制信號(hào)的頻譜包含了中心譜線和不同PRF處的譜線。根據(jù)相位噪聲的定義，測(cè)試脈沖調(diào)制信號(hào)的相位噪聲就需要針對(duì)不同脈沖調(diào)制參數(shù)對(duì)被測(cè)信號(hào)進(jìn)行濾波。

 

 

4.1、鑒相器法

 

與使用鑒相器法測(cè)試CW信號(hào)的相位噪聲相比，測(cè)試脈沖信號(hào)的相位噪聲指標(biāo)就需要PRF濾波。對(duì)PRF濾波也有明確的要求：PRF濾波器必須帶內(nèi)平坦度好、邊緣陡峭;不同的PRF頻率需要不同的PRF濾波器;PRF濾波器必須在PRF/2之內(nèi)有平坦的通帶，在PRF之外有很大衰減;同時(shí)PRF濾波器衰減了PRF饋通，總之該P(yáng)RF相當(dāng)復(fù)雜，實(shí)現(xiàn)起來很困難，操作也比較復(fù)雜。

 

 

4.2、數(shù)字相位解調(diào)法

 

數(shù)字相位解調(diào)法得益于強(qiáng)大的數(shù)字處理能力，測(cè)試脈沖調(diào)制信號(hào)的相位噪聲實(shí)現(xiàn)起來就比較簡單，該測(cè)試方法具有與CW信號(hào)相位噪聲測(cè)試相同的結(jié)構(gòu)框圖，沒有鑒相器，無需對(duì)參考信號(hào)進(jìn)行脈沖調(diào)制。PRF濾波器和脈寬加時(shí)間門在DSP中實(shí)現(xiàn)，易于處理不同PRF，無需復(fù)雜的校準(zhǔn)，也可實(shí)現(xiàn)脈沖附加相噪的測(cè)量。

 

 

使用數(shù)字相位解調(diào)法測(cè)量脈沖信號(hào)的相位噪聲首先采用零掃寬自動(dòng)檢測(cè)脈寬和周期，檢測(cè)到脈沖信號(hào)之后可以自動(dòng)的根據(jù)脈寬設(shè)置時(shí)間門長度，根據(jù)周期設(shè)置最大頻偏，然后進(jìn)行測(cè)試。最大可測(cè)量頻偏為PRF/2，并且測(cè)試時(shí)間與連續(xù)波時(shí)相同。測(cè)試效率較高，操作相對(duì)比較簡單、方便。

 

 

5、其他相關(guān)測(cè)試

 

5.1、附加(殘余)相位噪聲的測(cè)試原理和方法

 

所謂附加相位噪聲是指由器件或電路附加的相位噪聲。例如放大器，上、下變頻器等。

 

 

直接使用頻譜分析儀或者具有鑒相器法測(cè)試功能的信號(hào)源分析儀測(cè)試附加相位噪聲時(shí)，一般都需要使用外部信號(hào)源和移相器，信號(hào)源和移相器指標(biāo)的好壞會(huì)直接影響測(cè)試結(jié)果，并且實(shí)際操作非常復(fù)雜(需要精準(zhǔn)的調(diào)節(jié)移相器的相位)，由于附加相位噪聲指標(biāo)一般來說都比較低，所以該測(cè)試方法測(cè)試的結(jié)果尤其是準(zhǔn)確度比較難以令人滿意。

 

采用具有內(nèi)部信號(hào)源的數(shù)字相位解調(diào)法進(jìn)行附加相位噪聲的測(cè)試操作比較簡單方便，當(dāng)選擇“附加相噪”時(shí)，自動(dòng)對(duì)內(nèi)部硬件進(jìn)行重新配置，該測(cè)試方法無需鑒相器和移相器，而且內(nèi)部低噪聲頻率合成器產(chǎn)生 DUT 激勵(lì)信號(hào)，所以該方法很大程度上簡化了測(cè)量和校準(zhǔn)設(shè)置。

 

 

5.2、調(diào)幅噪聲的測(cè)試原理和方法

 

調(diào)幅噪聲測(cè)試常用的方法有兩種：一種是使用二極管檢波器進(jìn)行檢波，但該方法需要外置一個(gè)二極管檢波器，需要進(jìn)行復(fù)雜的校準(zhǔn)。另一種方法是使用AM解調(diào)的方法。使用AM解調(diào)的方法操作相對(duì)簡單，并且可以同時(shí)測(cè)試相位噪聲和AM噪聲。采用互相關(guān)法的話還可以大大提高測(cè)試靈敏度。

 

 

5.3、VCO測(cè)試

 

VCO測(cè)試對(duì)于VCO研發(fā)設(shè)計(jì)、生產(chǎn)使用具有重要的意義，目前的相位噪聲分析儀可以進(jìn)行完整的VCO測(cè)試，對(duì)被測(cè)VCO提供直流供電以及調(diào)諧供電，并測(cè)試VCO的所有參數(shù)。

 

 

5.4、瞬態(tài)測(cè)試

 

基于目前的相位噪聲分析儀可以進(jìn)行瞬態(tài)測(cè)試，瞬態(tài)測(cè)試主要應(yīng)用于跳頻信號(hào)的測(cè)試，尤其是寬帶跳頻信號(hào)的跳頻時(shí)間測(cè)試。瞬態(tài)測(cè)試一般可以分為窄帶模式和寬帶模式，目前寬帶跳頻信號(hào)的分析功能可以實(shí)現(xiàn)256MHz-8GHz頻段范圍內(nèi)的跳頻信號(hào)的分析。該應(yīng)用使得寬帶跳頻時(shí)間測(cè)試變得極為簡單。

 

 

6、提高相位噪聲測(cè)試靈敏度的互相關(guān)算法

 

無論測(cè)試CW信號(hào)相位噪聲還是脈沖信號(hào)的相位噪聲指標(biāo)，亦或是測(cè)試AM噪聲等相關(guān)測(cè)試，測(cè)量結(jié)果都會(huì)受到參考源和鑒相器本身相位噪聲的影響。為了進(jìn)一步提高測(cè)試靈敏度，降低參考源和鑒相器的影響，可以在鑒相器法或數(shù)字相位解調(diào)法的基礎(chǔ)之上采用互相關(guān)技術(shù)。其方法的核心為互相關(guān)電路以及互相關(guān)算法。被測(cè)信號(hào)被分成兩路，一路信號(hào)與一參考信號(hào)源進(jìn)行鑒相或數(shù)字解調(diào)，而另一路信號(hào)則與另一參考源進(jìn)行鑒相或數(shù)字解調(diào)，兩路輸出信號(hào)分別進(jìn)行濾波、放大和ADC采樣，然后進(jìn)行互相關(guān)運(yùn)算?；ハ嚓P(guān)技術(shù)對(duì)測(cè)量靈敏度的提高程度取決于互相關(guān)運(yùn)算次數(shù)。通過對(duì)10000次測(cè)量結(jié)果求和，參考振蕩器和測(cè)試系統(tǒng)的噪聲測(cè)試性能可提高20 dB。
 

但是，隨著互相關(guān)次數(shù)的增多，測(cè)試的時(shí)間會(huì)有所加長，尤其是載波近端的相位噪聲測(cè)試，多次互相關(guān)將需要很長的測(cè)試時(shí)間。尤其是鑒相器法采用互相關(guān)算法時(shí)會(huì)帶來較長的測(cè)試時(shí)間，而數(shù)字相位解調(diào)法基于強(qiáng)大的數(shù)字信號(hào)處理能力，與鑒相器法采用互相關(guān)算法相比較，測(cè)試速度會(huì)有較大的提高，大大提高測(cè)試的效率。

 

 

7、總結(jié)

 

相位噪聲指標(biāo)是射頻、微波領(lǐng)域一項(xiàng)非常關(guān)鍵的指標(biāo)，相位噪聲指標(biāo)的測(cè)試是研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)、調(diào)試必須進(jìn)行測(cè)試的一項(xiàng)指標(biāo)，測(cè)試準(zhǔn)確度要求較高，需要考慮的因素較多。最新的數(shù)字相位解調(diào)法不需要鎖相環(huán)，無需環(huán)路帶寬內(nèi)的噪聲抑制補(bǔ)償，相同靈敏度下，極大提高測(cè)試效率。數(shù)字相位解調(diào)法非常易于實(shí)現(xiàn)脈沖相位噪聲，附加相位噪聲，脈沖附加相位噪聲測(cè)試，VCO測(cè)試及瞬態(tài)測(cè)試等多項(xiàng)測(cè)試要求，可以極大的滿足多方面測(cè)試要求。并且可以進(jìn)行多種測(cè)試需求的并行測(cè)量。同時(shí)數(shù)字相位解調(diào)法測(cè)試比較簡單，無需復(fù)雜的操作設(shè)置，測(cè)試速度快。尤其是數(shù)字相位解調(diào)法基礎(chǔ)之上增加互相關(guān)算法進(jìn)行測(cè)試，使得測(cè)試靈敏度極高，是目前進(jìn)行相位噪聲測(cè)試以及其他相關(guān)測(cè)試最優(yōu)異的測(cè)試方法和手段。

 

 

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