【導讀】優(yōu)化電源設計以提高效率十分重要。提高效率不僅可以節(jié)省能源,減少熱量產生,還可以縮小電源尺寸。本文將討論如何平衡上管 MOSFET (HS-FET) 和下管MOSFET (LS-FET) 的數(shù)量比,以提高電源設計的效率。
圖 1 顯示了一個具有 HS-FET 和 LS-FET 的簡化電路。
圖 1:具有 HS-FET 和 LS-FET 的電路
選擇 MOSFET 時,如何恰當分配 HS-FET 和 LS-FET 的內阻以獲得最佳效率,這對電源工程師來說是一項挑戰(zhàn)。
MOSFET的結構和損耗組成
MOSFET 的選擇關乎效率,設計人員需要在其傳導損耗和開關損耗之間進行權衡。傳導損耗發(fā)生在在 MOSFET 關閉期間,由于電流流過導通電阻而造成;開關損耗則發(fā)生在MOSFET 開關期間,因為 MOSFET 沒有即時開關而產生。這些都是由 MOSFET 內半導體結構的電容行為引起的。
MOSFET 是一種集成型多組件結構,由多個MOSFET 半導體結構并聯(lián)而成。并聯(lián)的MOSFET晶體越多,其導通電阻 (RDS(ON))越小,但寄生電容越大。較小的 RDS(ON) 會降低傳導損耗,但會增加寄生電容,從而增大開關損耗。因此,設計人員需要在電阻和電容之間取得一定的平衡。
選擇 MOSFET 時需要慎重的考慮,但通過板載測試來決定則可能需要花費過多的時間和資源。因此,建立一個精確的數(shù)學模型來分析損耗并幫助MOSFET選型將更有價值。
計算傳導損耗
我們首先來了解相對簡單的傳導損耗計算。通過單個周期內流經 MOSFET 的電流和紋波電流可以計算出傳導損耗。
為確保精確性,進行此計算時需考慮 RDS(ON) 與溫度之間的關系。因為MOSFET的內阻 RDS(ON) 不是一個固定值,它會隨著溫度的升高而增大。
傳導損耗的計算方法如圖2所示。其中 IO 是標稱電流, ΔIO 是電流紋波幅度,TJ 是結溫,k 是溫度系數(shù)。
圖 2:傳導損耗的計算
開關損耗(寄生效應)
開關損耗的計算比較困難,因為計算時需考慮每個環(huán)路中的電感引起的寄生電感,以及 MOSFET 在不同電壓下的非線性寄生電容。
圖 3 所示為開關損耗計算中需考慮的兩種寄生因素。
圖 3:兩種寄生因素
開關損耗(導通損耗)
導通損耗包括三個階段,如下所述:
1. 階段 1(HS-FET 階段):當 HS-FET 導通時,漏源電壓 (VDS) 開始下降,漏源電流則一直上升,直到 HS-FET 的 VDS(TOP) 電壓降至 0V,或者 HS-FET 電流 (IHS) 上升至輸出電流 (IOUT)。
2. 階段 2(反向恢復階段):在反向恢復期間,ITOP 達到峰值,然后LS-FET 開始產生電壓。
3. 階段3(震蕩階段):當IHS停止波動時,震蕩結束。
圖 4 顯示了與導通損耗相關的開關損耗。
圖4: 導通損耗
開關損耗(關斷損耗)
關斷損耗包含兩個階段,如下所述:
階段1(DS 電壓上升):IDS 隨著 VDS 的上升而下降。當 IDS 降至 0A 時,此階段結束。
階段 2(振蕩):當 VDS 停止振蕩時,此階段結束。
圖5所示為關斷損耗。
圖5: 關斷損耗
數(shù)學模型和分析驗證
了解電路的各種損耗之后,就可以按如下步驟建立數(shù)學模型:
1. 按需求設置電路參數(shù)值。根據上文中的公式及其非線性參數(shù)補償值來分析MOSFET 的值。
2. 在變換器穩(wěn)態(tài)操作時,至少運行一個開關周期,執(zhí)行瞬態(tài)仿真。
3. 對電壓和電流波形進行積分,得到MOSFET的開關損耗和傳導損耗。該步驟可以通過功率探頭或將電流和 VDS 波形相乘來完成。
一旦建立了模型,利用從上文得到的功率損耗中獲取的數(shù)據,得到仿真效率值,將該值與電路板(或數(shù)據手冊)中得到的效率曲線進行比較。如果計算效率誤差在 0.5% 以內,則認為該模型是精確的(見圖 6)。
圖 6:數(shù)學模型驗證
基于數(shù)學工具選擇MOSFET
在本文的示例中,我們采用了總內阻為100mΩ的10個MOSFET,根據上述模型計算在不同上/下管MOSFET比率下的效率曲線。例如,1:9 的比率意味著有1個 HS-FET(高 RDS(ON)、低電容)和9個 LS-FET(低 RDS(ON)、低電容)。
通過比較曲線,我們可以得出結論,12V 至 3.3V、10A 應用的MOSFET 最佳比率為3:7(見圖 7)。這組效率曲線表明,即使 MOSFET 的數(shù)量相同,不同的比率也將導致不同的效率曲線。由此我們可以找到最優(yōu)效率曲線下的最佳MOSFET比率。
圖7: 最佳MOSFET比率
圖 8 顯示了在相同的輸入和輸出規(guī)格以及相同輸出電流下,如何在不同的 MOSFET 比率下找到電路中的最小損耗點。設計人員在選擇 MOSFET 比率時必須牢記這些規(guī)范。
圖 8:最佳效率的比較
結語 MOSFET 的選擇與電路效率密切相關,而精確的數(shù)學模型可以簡化 MOSFET 晶體管的選擇與設計。要獲得精確的模型,需要考慮電路的寄生參數(shù),并利用效率曲線來驗證結果。 本文介紹了如何通過精確的數(shù)學建模來選擇合適的 HS-FET 和 LS-FET 比率,從而實現(xiàn)最優(yōu)電源效率。如需了解更多信息,請參閱MPS 的MOSFET 驅動器 和 電源 解決方案。
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