【導讀】本文為大家分享如何利用數(shù)字電位計實現(xiàn)開關(guān)電源的輸出電壓調(diào)整?很多系統(tǒng)應用都必須在較窄的限幅內(nèi)調(diào)整開關(guān)電源(SMPS)輸出電壓,以便移除電源路徑上的誤差和壓降、驗證系統(tǒng)限幅的運作,或者實現(xiàn)微處理器的簡單動態(tài)電壓控制。
很多系統(tǒng)應用都必須在較窄的限幅內(nèi)調(diào)整開關(guān)電源(SMPS)輸出電壓,以便移除電源路徑上的誤差和壓降、驗證系統(tǒng)限幅的運作,或者實現(xiàn)微處理器的簡單動態(tài)電壓控制。此外,系統(tǒng)設(shè)計人員可能需要調(diào)整電源電壓,從而優(yōu)化它們的電平,或者通過強制產(chǎn)生非正常電平來測試系統(tǒng)在極端條件下的性能。該功能通常在在線測試(ICT)期間執(zhí)行,以滿足制造商想要保證產(chǎn)品在標稱電源的±10%范圍內(nèi)正常工作的期望。這種輸出電壓的變化步驟稱為裕量,即有意識地在預期范圍內(nèi)改變電源電壓。其他輸出變化應用,比如微處理器的動態(tài)電壓控制,必須能即時改變電壓,即在低功耗模式下降低電壓而在高性能模式下增加電壓。
圖1:開關(guān)電源電壓控制環(huán)路的反饋網(wǎng)絡采用兩個電阻
將典型開關(guān)電源輸出電壓(圖1)與內(nèi)部基準電壓進行比較,可看到差別集中在脈寬調(diào)制器(PWM)。PWM將斜坡與放大器輸出進行比較,生成PWM信號來控制開關(guān),從而向負載供電。
圖2. 使用數(shù)字電位計調(diào)整DC-DC轉(zhuǎn)換器輸出電壓,組成可變反饋電阻
控制誤差放大器引腳電壓,便可調(diào)整輸出電壓。這可以通過使用DAC,或者使用數(shù)字電位計,以外部方式實現(xiàn),如圖2所示。某些電壓調(diào)節(jié)器允許使用串行接口(比如PMBus、I2C或SPI)在內(nèi)部控制反饋電壓。表1比較了三種方法的調(diào)整能力和功耗。
數(shù)字電位計(或稱digiPOT)工作方式與傳統(tǒng)電位計相似,但用電子開關(guān)和數(shù)字信號代替機械游標進行操作,如圖3所示。digiPOT將一串小數(shù)值電阻與位于每兩個電阻交叉點上的電子開關(guān)串聯(lián)。digiPOT分辨率與電阻網(wǎng)絡中的位控制節(jié)點量有關(guān)??刂乒?jié)點的數(shù)量越高,分辨率越高。
圖3:顯示電子開關(guān)的64位數(shù)字電位計。同一時間只能閉合一個電子開關(guān),該開關(guān)決定電阻比。
某些數(shù)字電位計采用非易失性存儲器,因此可在測試期間編程輸出電源。相比其他兩種方式,這項易于使用的特性具有極大的優(yōu)勢。
線性化傳遞函數(shù)
反饋電阻R1和R2的比值決定了開關(guān)電源輸出電壓。
其中:
VFB = 內(nèi)部基準電壓
VOUT = 輸出電壓
R1 = 連接輸出的反饋電阻
R2 = 接地反饋電阻
以數(shù)字電位計代替R1和R2時,需考慮一些問題。數(shù)字電位計內(nèi)部有兩個電阻串(RAW和RWB),如圖4所示。
圖4:數(shù)字電位計電阻命名法
兩串電阻互補。
其中:
RAB = 端到端電阻或標稱值
以RAW和RWB代替R1和R2可實現(xiàn)對數(shù)傳遞函數(shù)。數(shù)字碼和輸出電壓之間的非線性關(guān)系降低了低端分辨率。圖5顯示了這個取自數(shù)字電位計的對數(shù)傳遞函數(shù)。
圖5:以數(shù)字電位計代替反饋電阻后得到的對數(shù)傳遞函數(shù)
圖6:在可變電阻模式下使用數(shù)字電位計
有多種方法可以克服此分辨率問題。比較常用的方法是在可變電阻模式下使用數(shù)字電位計(如圖6所示);或者將電阻與電位計串聯(lián)(如圖7所示)。
圖7:在電位計模式下線性化
最小化誤差
由于電阻公差,將數(shù)字電位計與外部電阻一同使用可能導致失配問題。精密器件可能具有1%的電阻公差,但大部分數(shù)字電位計只能達到20%的電阻公差。
這種情況下,可通過串并聯(lián)電阻組合減少失配(如圖8和圖9所示);其缺點是動態(tài)范圍也會縮小。
圖8:可變電阻和串聯(lián)電阻
圖9:電位計模式
在可變電阻模式下,串聯(lián)電阻必須足夠高,才能忽略數(shù)字電位計的公差,即R2 ≥ 10 × RAB。在電位計模式下,并聯(lián)電阻必須足夠小,即R3 ≤ RAB/10。
使用串并聯(lián)組合對電位計進行線性化可能十分復雜,如圖10中的等效電路所示。
圖10:最終Y-Δ變換
其中:
反饋輸入引腳通常具有較高的阻抗,因此R6的影響可以忽略。
開關(guān)調(diào)節(jié)器工作在較高頻率下(通常高于1 MHz),因而允許使用小數(shù)值外部元件。在最差情況下,它必須為動態(tài)負載供電,因此反饋電阻網(wǎng)絡必須提供足夠的帶寬,才能精確跟蹤輸出電壓。 由于存在寄生內(nèi)部開關(guān)電容,數(shù)字電位計可用作低通濾波器,如圖11所示。如果反饋網(wǎng)絡無法提供足夠的帶寬,則輸出電壓可能振蕩。
圖11. 如果反饋電阻網(wǎng)絡無法提供足夠的帶寬來精確跟蹤輸出電壓,
則雜散電容導致的寄生效應可能帶來麻煩。
則雜散電容導致的寄生效應可能帶來麻煩。
克服這一限制的一種簡單方法,是將一個電容并聯(lián)放置在輸出與反饋網(wǎng)絡之間(如圖12所示),以便降低高頻阻抗,并最大程度地縮短振蕩時間。
圖12:并聯(lián)電容降低高頻阻抗,最大程度地減少振蕩
實例:更簡單的解決方案
ADI公司的AD5141 digiPOT克服了其他數(shù)字電位計的某些問題。它提供:
● 非易失性256位調(diào)整
● 10 kΩ和100 kΩ電阻選項
● 8%最大電阻公差
● ±6 mA游標電流
● 35 ppm/°C溫度系數(shù)
● 3 MHz帶寬
● < 75 μS啟動時間
● 線性增益設(shè)置模式
● 單電源及雙電源供電
● 1.8 V至5.5 V獨立邏輯電源
● -40°C至+125°C工作溫度
● 3 mm × 3 mm LFCSP封裝
● 4 kV ESD保護
圖13:AD5141功能框圖
AD5141(圖13)可作為真可變電阻使用,用于處理端電壓范圍為VSS < VTERM < VDD的模擬信號。電阻游標位置取決于RDAC寄存器內(nèi)容。RDAC寄存器用作暫存寄存器,允許無限制地更改電阻設(shè)置。輔助寄存器(輸入寄存器)可用于預載入RDAC寄存器數(shù)據(jù)。
低電阻公差和低標稱溫度系數(shù)簡化了開環(huán)應用和需要公差匹配的應用。
AD5141的主要優(yōu)勢是采用了最新的專利功能,稱為“線性增益設(shè)置模式”.該模式允許對數(shù)字電位計端子RAW和RWB兩串電阻之間的電阻值獨立編程,使得:
采用這種模式,則無需通過外部電阻實現(xiàn)線性開關(guān)電源電壓調(diào)整;另外,電阻公差也可以忽略了,同時傳遞函數(shù)總誤差僅與內(nèi)部電阻串失配有關(guān),而后者通常不足1%,并具有低溫漂特性。
每一個電阻串都有一個對應的EEPROM位置,因此上電時可載入每一個電阻串的獨立值。此外,器件還為快速反饋環(huán)路提供了高達3 MHz的帶寬。
寬帶寬和低總諧波失真(THD)確保對于交流信號具有最佳性能,適合濾波器設(shè)計。在電阻陣列末端的游標電阻低至40 Ω,允許進行引腳到引腳連接。
游標電阻值可通過一個SPI/I2C兼容數(shù)字接口設(shè)置,也可利用該接口回讀游標寄存器和EEPROM內(nèi)容。
可利用I2C或SPI接口(使用DIS引腳便可通過硬件來加以選擇)設(shè)置任意位,實現(xiàn)針對RDAC寄存器的編程。找到所需的游標位置后,可以將該值存儲在EEPROM存儲器中。以后上電時游標位置始終會恢復到該位置。存儲EEPROM數(shù)據(jù)大約需要18 ms;在這段時間內(nèi),器件會鎖定并不會應答任何新命令,因而可防止出現(xiàn)任何更改。快速啟動時間(<75 μS)保證了完成電源序列后可快速刷新寄存器。