除了測(cè)試這種LNA設(shè)備,實(shí)際的RF ATE環(huán)境還需擁有測(cè)試其它類型的5G NR類型設(shè)備(耦合器、衰減器、濾波器、VGA等)的能力。因此,還需考慮多端口測(cè)試的情況。
你的位置:首頁(yè) > 測(cè)試測(cè)量 > 正文
Teledyne e2v:四通道ADC為5G NR ATE和現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)校準(zhǔn)測(cè)量帶來重大變革
發(fā)布時(shí)間:2020-07-23 責(zé)任編輯:lina
【導(dǎo)讀】無線技術(shù)在過去的20年里快速?gòu)?G發(fā)展到4G,現(xiàn)在已到了5G的時(shí)代。有一個(gè)技術(shù)問題一直貫穿這一發(fā)展的過程,即高頻器件的自動(dòng)校準(zhǔn)測(cè)試。
摘要
無線技術(shù)在過去的20年里快速?gòu)?G發(fā)展到4G,現(xiàn)在已到了5G的時(shí)代。有一個(gè)技術(shù)問題一直貫穿這一發(fā)展的過程,即高頻器件的自動(dòng)校準(zhǔn)測(cè)試。
RF ATE和現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試系統(tǒng)面臨的最困難的挑戰(zhàn)是校準(zhǔn)、可重復(fù)性和測(cè)試結(jié)果的關(guān)聯(lián)度。未來的無線技術(shù)的發(fā)展需要5G NR器件。Teledyne e2v的四通道多輸入端口ADC利用非并行片上高頻交叉點(diǎn)開關(guān)輸入電路技術(shù),使用戶可在RF ATE和/或現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試環(huán)境中使用自動(dòng)校準(zhǔn)和測(cè)量技術(shù)。
Teledyne e2v的EV12AQ605和EV10AQ190(采用交叉點(diǎn)開關(guān)輸入電路技術(shù)的12位和10位四通道ADC)使RF ATE和現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試設(shè)備的開發(fā)可以集中于單通道和多端口5G NR設(shè)備的自動(dòng)校準(zhǔn)測(cè)試和測(cè)量。
兩代之間的問題
5G是通信行業(yè)的第五代蜂窩網(wǎng)絡(luò)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn),從2019年開始在世界范圍應(yīng)用。5G是現(xiàn)在大多數(shù)手機(jī)使用的4G網(wǎng)絡(luò)的繼任者,帶寬更大,下載速度高達(dá)10 Gbit/s。 由于帶寬的增加,現(xiàn)在的4G手機(jī)將無法使用新的網(wǎng)絡(luò),這種新的網(wǎng)絡(luò)需要支持5G的無線設(shè)備。另一方面,5G也需要兼容諸如帶寬等所有的4G網(wǎng)絡(luò)需求。因此,為了保證廣泛的服務(wù),5G網(wǎng)絡(luò)將工作在三種頻段:低頻段、中頻段和高頻段。
低頻段5G(也稱作次1 GHz)使用和4G(600-700 MHz)相似的頻率范圍,可支持稍高于4G的下載速度(30-250 Mbit/s)。
中頻段5G(也稱作次6 GHz)的頻率范圍是2.5-3.7 GHz(下載速度是100-900 Mbit/s)。這一服務(wù)將在2020年覆蓋大多數(shù)的大城市區(qū)域。
高頻段5G(也稱作毫米波)使用26、28或39 GHz的頻率。上述的5G頻段都在2020年經(jīng)過測(cè)試,而新的中頻段(次6 GHz)預(yù)計(jì)在將來的幾個(gè)月或幾年內(nèi)實(shí)現(xiàn)(當(dāng)前有超過50個(gè)5G NR中頻段在世界范圍內(nèi)使用)。
2018年,一個(gè)5G的行業(yè)聯(lián)合標(biāo)準(zhǔn)(第三代合作工程(3GPP))定義了使用5G NR(5G新無線電)軟件的系統(tǒng)。5G最終將支持大約每平方千米1M個(gè)設(shè)備,而現(xiàn)在的4G支持大約每平方千米100K個(gè)器件。當(dāng)然,5G無線設(shè)備將兼容4G LTE功能,因?yàn)樾碌?G網(wǎng)絡(luò)將使用現(xiàn)有的4G網(wǎng)絡(luò)初步實(shí)現(xiàn)手機(jī)的連接。關(guān)鍵是,未來的5G器件不僅需滿足不斷發(fā)展的5G性能需求,還需兼容之前的2G/3G/4G/5G(GSM/EDGE/CDMA/UMTS/WCDMA/LTE/LTEA/TD-SCDMA/TD-LTE等)。
因此,未來的5G NR ATE系統(tǒng)需使用一種可靠的、可重復(fù)的方式在較寬的頻率范圍測(cè)試器件的性能,這種方式需支持自動(dòng)校準(zhǔn)和測(cè)量以確保結(jié)果相互關(guān)聯(lián)并減少測(cè)試誤差。
誤差帶來的麻煩
參數(shù)化RF ATE測(cè)量環(huán)境DUT(測(cè)試的器件)外部的不確定度/誤差需要采用能準(zhǔn)確并可靠測(cè)量DUT/產(chǎn)品性能的測(cè)量方法以提高測(cè)量的精確度。測(cè)試并量化測(cè)量的不確定度是獲得理想測(cè)量結(jié)果的關(guān)鍵。
一般來說,測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確度通常是值得懷疑的,因?yàn)樗械臏y(cè)量都受物理和電氣環(huán)境的影響,并受到使用的源/測(cè)試器件/儀器的限制。因而,測(cè)量的值永遠(yuǎn)不會(huì)等于測(cè)試的DUT/性能的真實(shí)值。測(cè)量值和真實(shí)性能值之間的差別叫做誤差。依據(jù)誤差的來源(DUT外部),這些誤差可被大致地分為隨機(jī)誤差和系統(tǒng)誤差。隨機(jī)誤差是隨機(jī)的,它們來源于測(cè)試設(shè)備和測(cè)試環(huán)境的不可預(yù)測(cè)的時(shí)間或空間變化。通常難以追蹤和量化隨機(jī)誤差如何影響DUT的測(cè)量結(jié)果。隨機(jī)誤差主要由RF ATE環(huán)境的變化引起,如溫度變化、連接變化、儀器噪聲和失真,也包含連接和線纜的誤差。
系統(tǒng)誤差是可重復(fù)的誤差,一般可以被修正,但無法全部消除。系統(tǒng)誤差僅可被減小到某個(gè)程度。校準(zhǔn)的概念通常指估算RF ATE測(cè)試環(huán)境中的系統(tǒng)誤差并修正。為了成功修正系統(tǒng)誤差,通常需要校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)或參考的器件。這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)或參考器件應(yīng)該能以較高的精確度代表或復(fù)現(xiàn)某個(gè)測(cè)量流程。校準(zhǔn)流程一般是用測(cè)量系統(tǒng)測(cè)量/測(cè)試這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)/參考器件,并將測(cè)量結(jié)果存儲(chǔ)為原始數(shù)據(jù)。通過比較這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)/參考器件的原始測(cè)量數(shù)據(jù)和已知的數(shù)值,可計(jì)算出系統(tǒng)誤差。這個(gè)誤差的值隨后被用于修正測(cè)量結(jié)果。不幸的是,對(duì)于5G NR ATE測(cè)試設(shè)備,包括DIB(設(shè)備接口板)、探針卡、線纜和連接等,標(biāo)準(zhǔn)/參考器件有各種各樣的高頻率和測(cè)試條件,這使得問題變得非常復(fù)雜。另一種校準(zhǔn)的方法是定義一個(gè)參考平面。這個(gè)參考平面是通過估算并修正測(cè)試系統(tǒng)環(huán)境的系統(tǒng)誤差得出。不幸的是,隨機(jī)誤差無法通過參考平面環(huán)境修正。當(dāng)前RF/5G NR ATE和現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試系統(tǒng)環(huán)境迫切需要一種使用自動(dòng)/校準(zhǔn)和測(cè)量技術(shù)為每個(gè)DUT創(chuàng)建一個(gè)參考平面的解決方案。
獨(dú)立器件的自動(dòng)校準(zhǔn)和測(cè)試測(cè)量
為RFATE環(huán)境中的每個(gè)DIB(設(shè)備接口板)/DUT創(chuàng)建一個(gè)參考平面需要定義一個(gè)校準(zhǔn)流程(圖1a和1b)。 校準(zhǔn)通常使用一套標(biāo)準(zhǔn)。理想狀態(tài)下,這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)采用一個(gè)“金參考器件”DIB/DUT,與通常的DIB/DUT測(cè)量(步驟2)相比,其累計(jì)誤差只有不到一半或四分之一(步驟1)。如果可得出這一誤差( 步驟1),則可認(rèn)為標(biāo)準(zhǔn)的累計(jì)測(cè)量方法足以滿足實(shí)際的DIB/DUT測(cè)試(步驟2)。一直維持RF ATE環(huán)境中不同的頻率、噪聲和電壓條件下最小的“金標(biāo)準(zhǔn)/參考器件”測(cè)量誤差是一件非常困難、耗時(shí)和昂貴的工作。
當(dāng)然,器件的互聯(lián)和變化也會(huì)顯著影響創(chuàng)建標(biāo)準(zhǔn)的參考平面和DIB/DUT的校準(zhǔn)(包括多設(shè)備接口板(DIB)異常、DIB/DUT接觸/器件變化、線纜/連接器阻抗、源/測(cè)量?jī)x器變化等)??紤]到上述的內(nèi)容,5G NR設(shè)備的校準(zhǔn)流程需使用一套標(biāo)準(zhǔn)的手動(dòng)的測(cè)試方法創(chuàng)建參考平面(引入大的隨機(jī)誤差),然后采用自動(dòng)測(cè)
試方法去除系統(tǒng)誤差源。
圖2表示一個(gè)通用的6腳(表面貼裝封裝)的5G NR低噪聲放大器(LNA)產(chǎn)品/DUT(不連接外圍器件)。這個(gè)LNA的測(cè)試樣本需在RF ATE環(huán)境下測(cè)試,這個(gè)環(huán)境需要在測(cè)試之前校準(zhǔn),以確定參考平面。典型的用于LNA的RF ATE測(cè)試包括:
• 工作頻率范圍(有超過50個(gè)5G NR網(wǎng)絡(luò)頻帶)
• 增益/插入損耗
• 頻率范圍的增益平坦度
• 噪聲圖
• 輸入/輸出回波損耗
• 輸入IP3
• 輸出IP3
除了測(cè)試這種LNA設(shè)備,實(shí)際的RF ATE環(huán)境還需擁有測(cè)試其它類型的5G NR類型設(shè)備(耦合器、衰減器、濾波器、VGA等)的能力。因此,還需考慮多端口測(cè)試的情況。
圖3表示相同的通用6腳(表面貼裝封裝)5G NR低噪聲放大器(LNA)產(chǎn)品/DUT,但是帶有正常工作所需的外部器件。這些器件盡可能近地安裝在DIB上。實(shí)際上,由于高頻激勵(lì),圖3的測(cè)量和校準(zhǔn)比圖2復(fù)雜得多。DUT和DIB之間的異常包括:
• 衰減器不匹配和損耗誤差(需要阻抗匹配和改變DUT輸入/輸出電平)
• 輸入和輸出之間的電感性能變化
• 控制線和門驅(qū)動(dòng)之間的相互作用的變化
• 接地環(huán)路
• 線纜/連接阻抗
• 每個(gè)測(cè)試模塊的測(cè)試系統(tǒng)連接的阻抗變化
如前所述,隨著在DUT中增加了信號(hào)鏈中的多個(gè)器件,校準(zhǔn)的問題也會(huì)更復(fù)雜。隨著變量的增加,校準(zhǔn)和自動(dòng)測(cè)試誤差呈指數(shù)級(jí)增加。
因此,未來5G NR ATE系統(tǒng)和現(xiàn)場(chǎng)電信測(cè)試設(shè)備需要具有在寬頻率范圍和不同測(cè)試條件下可靠、可重復(fù)、相關(guān)聯(lián)(考慮到前面所述的誤差)測(cè)試的能力。它也需要一種自動(dòng)校準(zhǔn)技術(shù),不依靠手動(dòng)校準(zhǔn)依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)創(chuàng)建參考平面。圖4表示一個(gè)簡(jiǎn)化/概念性的自動(dòng)校準(zhǔn)5G NR RF ATE測(cè)量系統(tǒng)的框圖,可用于任何DIB/DUT,無論是單端口還是多端口,是否有外圍器件。
為了保證RF ATE系統(tǒng)準(zhǔn)確、可靠性、可重復(fù)的測(cè)試,測(cè)試工程師必須填補(bǔ)昂貴的測(cè)量?jī)x器的面板上的高質(zhì)量連接器和DIB/DUT的接口之間的空白。DUT的電氣接口(探針卡或封裝適配接口卡)通常集成在DIB內(nèi)部,卻很少與相同類型的高質(zhì)量連接器匹配。源端(到DUT)和接收端/測(cè)量設(shè)備(來自DUT)之間大量的線纜/連接器以及DIB會(huì)引入大量的隨機(jī)誤差和系統(tǒng)誤差。
為了補(bǔ)償這些誤差,簡(jiǎn)化的RF ATE測(cè)試配置(圖4)允許DUT端口的自動(dòng)校準(zhǔn)和測(cè)量,無需手動(dòng)校準(zhǔn)技術(shù)為每個(gè)獨(dú)立的DIB/DUT創(chuàng)建參考平面。圖4簡(jiǎn)單地通過直接測(cè)量測(cè)試配置誤差并在最終的DUT測(cè)量值中糾正這些誤差(原始測(cè)試測(cè)量值 - 校準(zhǔn)誤差測(cè)量值 = 最終DUT測(cè)量值)使校準(zhǔn)/測(cè)試測(cè)量的流程實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化。具體實(shí)現(xiàn)方法是,首先,內(nèi)部交叉點(diǎn)開關(guān)(CPS)會(huì)自動(dòng)切換到“校準(zhǔn)誤差測(cè)量”模式,從而允許ADC測(cè)量RF吞吐量,這包含以下的誤差:
• 直接RF天線/源噪聲和失真
• DUT的輸入回波損耗/衰減器誤差
• 電源誤差
• 接地誤差
• 輔助源/驅(qū)動(dòng)問題(如上述的控制端口的例子)
• 連接器和線纜誤差/變化
這個(gè)測(cè)量結(jié)果被存儲(chǔ)為校準(zhǔn)誤差測(cè)量值。隨后CPS自動(dòng)切換至“原始測(cè)試測(cè)量”模式,ADC對(duì)DUT(連接所需的外圍器件)進(jìn)行同樣的測(cè)量,數(shù)據(jù)被存儲(chǔ)為原始測(cè)試測(cè)量值。這兩個(gè)測(cè)量值經(jīng)過軟件的處理,得出自動(dòng)校準(zhǔn)/修正的最終測(cè)試測(cè)量結(jié)果。內(nèi)部的CPS允許RF ATE工程師通過一系列的測(cè)試自動(dòng)重配置DIB/DUT,無需手動(dòng)干預(yù)和重校準(zhǔn)。 類似地,如果DIB/DUT包含多個(gè)器件,可通過四通道ADC和四輸入交叉點(diǎn)開關(guān)(CPS)實(shí)現(xiàn)多個(gè)端口的測(cè)量和自動(dòng)校準(zhǔn)/修正,隨后將詳細(xì)介紹這一點(diǎn)。
5G NR ATE DUT自動(dòng)校準(zhǔn)和測(cè)試測(cè)量
圖5和圖6描述了使用Teledyne e2v的四通道、多輸入端口并集成了非并行片上高頻交叉點(diǎn)開關(guān)(CPS)的ADC的5G NR ATE自動(dòng)校準(zhǔn)和測(cè)試測(cè)量系統(tǒng)的自動(dòng)化解決方案。 Teledyne e2v的EV12AQ605和EV10AQ190(12位和10位四通道集成交叉點(diǎn)開關(guān)的ADC)使得5G NR ATE和現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試設(shè)備可針對(duì)單個(gè)通道(圖5, 6和7)和多端口5G NR設(shè)備(如下一節(jié)所示)進(jìn)行自動(dòng)校準(zhǔn)測(cè)量測(cè)試。
CPS有四種不同的模式(可通過SPI控制自動(dòng)使能):
•1通道模式IN0輸入:四通道ADC交織成最高采樣率6.4 Gsps(4 x1.6 Gsps)
• 1通道模式IN3輸入:同上
• 2通道模式IN0輸入連接到ADC A和B,IN3連接到ADC C和D,每通道最高采樣率3.2 Gsps(2 x 1.6 Gsps)
• 4通道模式IN0-IN3輸入分別連接到ADC A, B, C, D,每通道最高采樣率1.6 Gsps
另外,EV12AQ605的擴(kuò)展輸入帶寬超過6 GHz(EFPBW),允許C波段(4-8 GHz)的信號(hào)直接采樣,無需通過下變頻器將信號(hào)變換到基帶(直接RF采樣)。
圖5是自動(dòng)校準(zhǔn)測(cè)量的簡(jiǎn)化框圖。CPS設(shè)置成1通道(IN0輸入)模式,ADC(A, B, C, D)測(cè)量DIB/DUT的RF吞吐端口,而斷開DIB/DUT的RF輸出端(也由CPS實(shí)現(xiàn))。這種“校準(zhǔn)誤差測(cè)量”采樣DIB/DUT(輸入)的聯(lián)合誤差:
• 直接RF天線/源噪聲和失真
• 到DUT的輸入回波損耗/衰減器/濾波器誤差
• 電源和接地的誤差
• 來自DUT的輸入/回波損耗/接觸誤差
• DUT所需的DIB包含的輔助源/驅(qū)動(dòng)/器件問題
• 連接器和線纜誤差/變化等
這些ADC的測(cè)量結(jié)果被存儲(chǔ)為“校準(zhǔn)誤差測(cè)量值”。
圖6是原始測(cè)試測(cè)量的簡(jiǎn)化框圖。在獲得校準(zhǔn)誤差測(cè)量值之后,CPS切換到1通道(IN3輸入)模式,ADC(A, B, C, D)測(cè) 量DIB/DUT的RF輸出端口,而斷開DIB/DUT的RF吞吐端口(由CPS實(shí)現(xiàn))。這種“原始測(cè)試測(cè)量”采樣DIB/DUT(輸入)/DUT(輸出)的聯(lián)合性能和誤差,如:
• 前面的校準(zhǔn)誤差測(cè)量中提到的誤差
• 加上DUT RF輸出性能
ADC的測(cè)量結(jié)果被存儲(chǔ)為“原始測(cè)試測(cè)量值”。最終的DUT測(cè)量值由下式計(jì)算出:原始測(cè)試測(cè)量值 - 校準(zhǔn)誤差測(cè)量值 = 最終DUT測(cè)量值。
圖7是同時(shí)進(jìn)行校準(zhǔn)誤差測(cè)量和原始測(cè)試測(cè)量的簡(jiǎn)化框圖。CPS被設(shè)置成2通道模式(IN0輸出連接到A和B, IN3輸出連接到C和 D)。2通道模式的ADC(A, B)測(cè)量DIB/DUT的RF吞吐端口,而DIB/DUT的RF輸出也被ADC(C, D)測(cè)量。利用最大3.2 Gsps的采樣率,可以同時(shí)測(cè)量“校準(zhǔn)誤差測(cè)量值”和“原始測(cè)試測(cè)量值”。同樣的,最終的DUT測(cè)量值可由下式計(jì)算出:原始測(cè)試測(cè)量值 - 校準(zhǔn)誤差測(cè)量值 = 最終DUT測(cè)量值。
已安裝的電信設(shè)備的自動(dòng)校準(zhǔn)5G NR ATE系統(tǒng)/現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試
圖8是同時(shí)測(cè)量多端口DIB/DUT輸入/輸出以完成自動(dòng)校準(zhǔn)測(cè)量和原始測(cè)試測(cè)量流程的簡(jiǎn)化框圖。CPS被設(shè)置成4通道模式,每個(gè)獨(dú)立采樣的ADC通道最大支持1.6 Gsps的采樣率。多端口DIB/DUT也可代表已安裝的電信系統(tǒng)的測(cè)試/測(cè)量點(diǎn)。在4通道模式下,ADC(A, B, C, D)同時(shí)測(cè)量DIB/DUT或現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試系統(tǒng)的RF吞吐端口、端口1、端口2和RF輸出端口。這種配置可同時(shí)測(cè)量每個(gè)端口,數(shù)據(jù)可被用作“校準(zhǔn)誤差測(cè)量值”和/或“原始測(cè)試測(cè)量值”。最終的測(cè)試測(cè)量值可通過從原始測(cè)試測(cè)量值中減去端口校準(zhǔn)誤差得出。
此外,EV12AQ605包含一個(gè)“多ADC鏈?zhǔn)酵焦δ?rdquo;,可為這種多端口測(cè)試測(cè)量帶來更大的設(shè)計(jì)靈活性。4個(gè)ADC核心的鏈?zhǔn)酵焦δ埽〞r(shí)鐘樹和數(shù)字復(fù)位)可自動(dòng)調(diào)整多個(gè)ADC的采樣時(shí)序/相位并重對(duì)齊,支持實(shí)時(shí)測(cè)量修正。ADC的鏈?zhǔn)酵焦δ苁惯@一4通道系統(tǒng)可被擴(kuò)展為8, 12, 16或更多通道的系統(tǒng)。
獨(dú)特的帶CPS的四通道ADC(EV12AQ605和EV10AQ190) 為5G NR ATE系統(tǒng)和電信設(shè)備的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試加入自動(dòng)校準(zhǔn)測(cè) 試和測(cè)量的功能
EV12AQ605是一款四通道12位1.6 Gsps的ADC。內(nèi)置的交叉點(diǎn)開關(guān)(CPS)可切換多個(gè)工作模式,從而交織4個(gè)獨(dú)立的核心實(shí)現(xiàn)更高的采樣率。在4通道工作模式下,4個(gè)核心可以1.6 Gsps的采樣率同相位采樣4個(gè)獨(dú)立的輸入。在2通道工作模式下,核心可兩兩交織,實(shí)現(xiàn)每個(gè)輸入端3.2 Gsps的采樣率。在1通道模式下,單個(gè)輸入連接到交織的4個(gè)核心,實(shí)現(xiàn)6.4 Gsps的采樣率。這種高度的靈活性使用戶可在3.2 GHz的瞬時(shí)帶寬內(nèi)實(shí)現(xiàn)RF(和IF) 的數(shù)字化。EV12AQ605的擴(kuò)展輸入帶寬超過6 GHz(EFPBW), 允許C波段(4-8 GHz)的信號(hào)直接采樣,無需使用下變頻器將信號(hào)轉(zhuǎn)換到基帶。這款A(yù)DC包含多個(gè)ADC鏈?zhǔn)酵降墓δ?,可用于多通道系統(tǒng)的設(shè)計(jì)。它的封裝是使用HiTCE玻璃陶瓷材料的非密封型倒裝封裝,可優(yōu)化RF性能,支持較高的管腳密度。
與本文介紹的主題相關(guān)的一個(gè)重要的性能指標(biāo)是通道間隔離度或串?dāng)_。大的串?dāng)_會(huì)給ADC增加額外的誤差并影響結(jié)果??梢酝ㄟ^與其他噪聲源類似的自動(dòng)校準(zhǔn)的流程修正這種誤差。圖10表 明,EV12AQ605擁有世界領(lǐng)先的串?dāng)_性能,其引入的額外噪聲影響不大。
EV10AQ190是類似的早期的10 bit的ADC版本,也集成了交叉點(diǎn)開關(guān)。兩者的性能概述請(qǐng)參考下表:
結(jié)論
隨著5G NR網(wǎng)絡(luò)在世界范圍的普及,高頻器件的自動(dòng)/校準(zhǔn)高速測(cè)量是一個(gè)關(guān)鍵的問題。校準(zhǔn)、可重復(fù)性和測(cè)量值的相互關(guān)聯(lián)是5G NR ATE和現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試系統(tǒng)面臨的巨大挑戰(zhàn)。這些問題和總體測(cè)試速度以及吞吐量直接關(guān)聯(lián),影響解決方案的效率和性能。Teledyne e2v的四通道多輸入端口ADC使用非并行的片上高頻交叉點(diǎn)開關(guān)輸入電路技術(shù),在5G NR ATE和/或現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試環(huán)境中為器件(單個(gè)或多端口)的測(cè)試提供自動(dòng)校準(zhǔn)和測(cè)量的解決方案。
免責(zé)聲明:本文為轉(zhuǎn)載文章,轉(zhuǎn)載此文目的在于傳遞更多信息,版權(quán)歸原作者所有。本文所用視頻、圖片、文字如涉及作品版權(quán)問題,請(qǐng)電話或者郵箱聯(lián)系小編進(jìn)行侵刪。
特別推薦
- 克服碳化硅制造挑戰(zhàn),助力未來電力電子應(yīng)用
- 了解交流電壓的產(chǎn)生
- 單結(jié)晶體管符號(hào)和結(jié)構(gòu)
- 英飛凌推出用于汽車應(yīng)用識(shí)別和認(rèn)證的新型指紋傳感器IC
- Vishay推出負(fù)載電壓達(dá)100 V的業(yè)內(nèi)先進(jìn)的1 Form A固態(tài)繼電器
- 康佳特推出搭載AMD 銳龍嵌入式 8000系列的COM Express緊湊型模塊
- 村田推出3225尺寸車載PoC電感器LQW32FT_8H系列
技術(shù)文章更多>>
- “扒開”超級(jí)電容的“外衣”,看看超級(jí)電容“超級(jí)”在哪兒
- DigiKey 誠(chéng)邀各位參會(huì)者蒞臨SPS 2024?展會(huì)參觀交流,體驗(yàn)最新自動(dòng)化產(chǎn)品
- 提前圍觀第104屆中國(guó)電子展高端元器件展區(qū)
- 高性能碳化硅隔離柵極驅(qū)動(dòng)器如何選型,一文告訴您
- 貿(mào)澤電子新品推薦:2024年第三季度推出將近7000個(gè)新物料
技術(shù)白皮書下載更多>>
- 車規(guī)與基于V2X的車輛協(xié)同主動(dòng)避撞技術(shù)展望
- 數(shù)字隔離助力新能源汽車安全隔離的新挑戰(zhàn)
- 汽車模塊拋負(fù)載的解決方案
- 車用連接器的安全創(chuàng)新應(yīng)用
- Melexis Actuators Business Unit
- Position / Current Sensors - Triaxis Hall
熱門搜索